Код 9012 10 900 0

9012 10 900 0

ПОРТАТИВНЫЙ ЦИФРОВОЙ НЕОПТИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП: ; МИКРОСКОП С УВЕЛИЧЕНИЕМ 1600Х, В КОМПЛЕКТЕ СО ШТАТИВОМ, МУФТОЙ ДЛЯ ШТАТИВА, КАЛИБРОВОЧНОЙ ЛИНЕЙКОЙ, ДИСКОМ С РУКОВОДСТВОМ ПОЛЬЗОВАТЕЛЯ, ПОДСТАВКОЙ ДЛЯ ШТАТИВА, РУКОВОДСТВОМ ПОЛЬЗОВАТЕЛЯ. НАПРЯЖЕНИЕ 5В. ; (ФИРМА) ; (TM)

9012 10 900 0

ПРИБОРЫ ЛАБОРАТОРНЫЕ, НЕ МЕДИЦИНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ, СКАНИРУЮЩИЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ, ГРАЖДАНСКОГО ПРИМЕНЕНИЯ;  НАСТОЛЬНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, МОДЕЛЬ CUBE-II УВЕЛИЧЕНИЕ: 10X ~ 200, 000X УСКОРЯЮЩЕЕ НАПРЯЖЕНИЕ: 1 KV ~ 30 KV ДЕТЕКТОР: ДЕТЕКТОР ВТОРИЧНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ И ДЕТЕКТОР ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ЭЛЕКТРОННАЯ ПУШКА: ПРЕДВАРИТЕЛЬНО; (ФИРМА) ; (TM)

9012 10 900 0

МИКРОСКОПЫ, КРОМЕ ОПТИЧЕСКИХ, АППАРАТЫ ДИФРАКЦИОННЫЕ;  ПРЯМОЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ МЕТАЛЛУРГИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП BS-6024 RF/TRF С ГАЛОГЕННОЙ ЛАМПОЙ, 1X И КРОНШТЕЙНОМ МИКРОСКОПЫ СЕРИИ BS-6024 ПРЕДНАЗНАЧЕНЫ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ В ОБЛАСТИ МЕТАЛЛОГРАФИИ. ИМЕЮТ ШИРОКОЕ ПОЛЕ ЗРЕНИЯ, ВЫСОКУЮ РАЗРЕШАЮЩУЮ СПОСОБНОСТЬ, ; (ФИРМА) ; (TM)

9012 10 900 0

НЕОПТИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ И МОДИФИКАЦИИ ПОВ-ТЕЙ ОБЪЕКТОВ, ПОЗВОЛЯЕТ ПОЛУЧИТЬ ИЗОБР. ПОВ-СТИ С РАЗРЕШЕНИЕМ ОТ АТОМАРНОГО ДО ДОЛЕЙ МИКРОНА. В РАЗОБР. ВИДЕ. МАРКА NTEGRA II ТЕХ. ХАР-КИ: ДИАПАЗОН ИЗМЕРЕНИЙ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ В ПЛОСКОСТИ XY НЕ МЕНЕЕ 90 МКМ, ДИАПАЗОН ИЗМЕРЕНИЙ ПО ОСИ Z НЕ МЕНЕЕ 10 МКМ. КОНТРОЛИРУЕМОЕ РАЗРЕШЕНИЕ В ПЛОСКОСТИ XY НЕ БОЛЕЕ 0, 24 НМ, РАЗРЕШЕНИЕ ПО ОСИ Z НЕ БОЛЕЕ 0, 1 НМ. НЕ ЯВЛЯЕТСЯ ЦИФРОВЫМ ИНВЕРТИРОВАННЫМ МИКРОСКОПОМ, НЕ ГЕРМЕТИЧЕН. НЕ МОЖЕТ БЫТЬ СИСТЕМОЙ НАБЛЮДЕНИЯ И АРХИВАЦИИ ДАННЫХ РАЗВИТИЯ ЭМБРИОНОВ. НЕ МОЖЕТ ПРИМЕНЯТЬСЯ ДЛЯ ПОКАДРОВОЙ СЪЕМКИ РАЗВИТИЯ ЧЕЛОВЕЧЕСКОГО ЭМБРИОНА В ИНКУБАТОРЕ ЧЕРЕЗ ЗАДАННЫЕ ПРОМЕЖУТКИ ВРЕМЕНИ. ПРИМЕНЕНИЕ В НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЯХ, ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ, ХИМИИ.  

9012 10 900 0

МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ, КРОМЕ ОПТИЧЕСКИХ МИКРОСКОПОВ, ДЛЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ В ОБУЧАЮЩИХ ПРОГРАММАХ ДЛЯ ИНЖЕНЕРНО-ТЕХНИЧЕСКОГО ТВОРЧЕСТВА УЧАЩИХСЯ И РАЗРАБОТКИ УЧЕБНЫХ МОДЕЛЕЙ РОБОТОТЕХНИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ В ОБРАЗОВАТЕЛЬНО-ТВОРЧЕСКИХ ЦЕНТРАХ, НЕ СОДЕРЖАТ СМ. ДОПОЛНЕНИЕ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ И (ИЛИ) ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ УСТРОЙСТВ. НЕ ВОЕННОГО НАЗНАЧЕНИЯ. НЕ ЯВЛЯЮТСЯ ЛОМОМ ЭЛЕКТРООБОРУДОВАНИЯ: ; ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЕМОНСТРАЦИОННЫЙ, УЧЕБНЫЙ, УВЕЛИЧЕНИЕ 50X-1000X; 4, 3-ДЮЙМОВАЯ TFT-ПАНЕЛЬ, 16: 9; ДИАПАЗОН ФОКУСИРОВКИ 0-40 ММ; РАЗРЕШЕНИЕ 2048*1536, 1920*1080, 1280*960, 640*480; ИСТОЧНИК СВЕТА 8 СВЕТОДИОДОВ (РЕГУЛИРУЕМАЯ ЯРКОСТЬ) ; НАПРЯЖЕНИЕ 3, 7 В ,

9012 10 900 0

ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, ВВОЗИТСЯ ДЛЯ СОБСТВЕННЫХ НУЖД ФИРМЫ : ;  NO. 1073B/HIGH DEFINITION ELECTRON MICROSCOPE / ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП С МОНИТОРОМ, ПИТАНИЕ DC 12V 400MA, УВЕЛИЧЕНИЕ 500: 1, МОНИТОР TFT 8", 800X600

9012 10 900 0

МИКРОСКОПЫ, КРОМЕ ОПТИЧЕСКИХ, АППАРАТЫ ДИФРАКЦИОННЫЕ, ИТОГО - XШТ. ; СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП (СЭМ) , ПОЛНОСТЬЮ УПРАВЛЯЕМЫЙ ЧЕРЕЗ ПЕРСОНАЛЬНЫЙ КОМПЬЮТЕР, ЯВЛЯЕТСЯ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИМ ЛАБОРАТОРНЫМ ОБОРУДОВАНИЕМ И ПРЕДНАЗНАЧЕН ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ И ПРОВЕДЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЙ В ВЫСОКОМ ВАКУУМЕ, А ТАК ЖЕ ДЛЯ

9012 10 900 0

ПРОЧИЕ МИКРОСКОПЫ, КРОМЕ ОПТИЧЕСКИХ, АППАРАТЫ ДИФРАКЦИОННЫЕ: ; МИКРОСКОП RV3020, ХАРАКТЕРИСТИКИ: ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ: МОДЕЛЬ RV-3020 X, Y, Z ПЕРЕМЕЩЕНИЯ, ММ 300Х200Х200 ОБЩИЕ РАЗМЕРЫ, СМ 140Х92Х175 ВЕС, КГ 280 ПОВТОРЯЕМОСТЬ: 1. 7 чM МАКСИМАЛЬНАЯ НАГРУЗКА НА СТОЛ: 30КГ РЕЖИМ РАБОТЫ: X Y РУЧНОЙ, Z

9012 10 900 0

МИКРОСКОП UN167 - XШТ. ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП , 7-ДЮЙМОВЫЙ HD ЖК-ЭКРАН, 4-МЕГАПИКСЕЛЬНАЯ КАМЕРА И УВЕЛИЧЕНИЕ 1-1200X, ПУЛЬТ ДИСТАНЦИОННОГО УПРАВЛЕНИЯ (ЗАХВАТ ФОТО И ВИДЕО РЕГУЛИРОВКА ЯРКОСТИ, УВЕЛИЧЕНИЕ И УМЕНЬШЕНИЕ МАСШТАБА, ПОВОРОТ ИЗОБРАЖЕНИЯ БЕЗ НАЖАТИЯ КНОПОК ЭТОГО ВИДЕОМИКРОСКОПА) , РЕГУЛИРУЕМАЯ ПО ВЫСОТЕ И УГЛУ ПОДСТАВКА И МОНИТОР. КОМПЛЕКТ ПОСТАВКИ: МИКРОСКОП, ПОДСТАВКА, ШТАНГА, ТРУБКА, ВЕТОШЬ ДЛЯ ПРОТИРКИ ЛИНЗ , РУКОВОДСТВО, СВЕТОВОЙ ФИЛЬТР-НАСАДКА, ПУЛЬТ. МИКРОСКОП ПРЕДНАЗНАЧЕН ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ. ВВОЗИТСЯ ДЛЯ СОБСТВЕННЫХ НУЖД В ЕДИНИЧНОМ ЭКЗЕМПЛЯРЕ.  

9012 10 900 0

СКАНИРУЮЩИЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ОПТИЧЕСКОГО ВИЗУАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ МИКРОСТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ, НЕ ВОЕННОГО НАЗНАЧЕНИЯ;  MICROSCOPE/СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП EM-30 PLUS INCLUSIVE/ ВКЛЮЧАЯ: LV OPTION - 1 PC/LV ФУНКЦИЯ НИЗКОГО ВАКУУМА - X ШТ CSU-2 COOL STAGE - 1 PC/CSU-2 КРИОСТОЛИК - X ШТ QLED49" MONITOR - 1 PC/QLED49" МОНИТОР - 1 ШТ

9012 10 900 0

ОБОРУДОВАНИЕ ЛАБОРАТОРНОЕ: ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП;  СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП WIN SEM A6000LV. ПОСТАВЛЯЕТСЯ В СЛЕДУЮЩЕЙ КОМПЛЕКТАЦИИ: 1. РАЗРЕШЕНИЕ: 3 НМ ПРИ 30 КЭВ (SE) , 6 НМ ПРИ 30 КЭВ (BSE) 2. УВЕЛИЧЕНИЕ: 8X~300000X (ОТРИЦАТЕЛЬНОЕ УВЕЛИЧЕНИЕ) 16X ~ 600000X (ЭКРАННОЕ УВЕЛИЧЕНИЕ) . 3.

9012 10 900 0

МИКРОСКОП ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЙ ПАНКРЕАТИЧЕСКИЙ ДЛЯ МЕДИЦИНСКОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ : ; ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЙ МИКРОСКОП SK2500TH2 ПАНКРАТИЧЕСКИЙ

9012 10 900 0

НЕОПТИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ И МОДИФИКАЦИИ ПОВ-ТЕЙ ОБЪЕКТОВ, ПОЗВОЛЯЕТ ПОЛУЧИТЬ ИЗОБР. ПОВ-СТИ С РАЗРЕШЕНИЕМ ОТ АТОМАРНОГО ДО ДОЛЕЙ МИКРОНА. В РАЗОБР. ВИДЕ. МАРКА SOLVER NANO ТЕХ. ХАР-КИ: ОБЛАСТЬ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ОБРАЗЦА 5Х5 ММ, ДИАМЕТР ИССЛЕДУЕМОГО ОБРАЗЦА ДО 25 ММ, ТОЛЩИНА ДО 10 ММ. ОБЛАСТЬ СКАНИРОВАНИЯ 100Х100Х10 МКМ. НЕ ЯВЛЯЕТСЯ ЦИФРОВЫМ ИНВЕРТИРОВАННЫМ МИКРОСКОПОМ, НЕ ГЕРМЕТИЧЕН. НЕ МОЖЕТ БЫТЬ СИСТЕМОЙ НАБЛЮДЕНИЯ И АРХИВАЦИИ ДАННЫХ РАЗВИТИЯ ЭМБРИОНОВ. НЕ МОЖЕТ ПРИМЕНЯТЬСЯ ДЛЯ ПОКАДРОВОЙ СЪЕМКИ РАЗВИТИЯ ЧЕЛОВЕЧЕСКОГО ЭМБРИОНА В ИНКУБАТОРЕ ЧЕРЕЗ ЗАДАННЫЕ ПРОМЕЖУТКИ ВРЕМЕНИ. ПРИМЕНЕНИЕ В НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЯХ, ТЕХНОЛОГИИ МИКРО- И НАНОСТРУКТУР, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ, ХИМИИ.  

9012 10 900 0

МИКРОСКОПЫ, КРОМЕ ОПТИЧЕСКИХ, АППАРАТЫ ДИФРАКЦИОННЫЕ: МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ МИКРОСКОПЫ (ДАЛЕЕ - ПРИБОР ИЛИ ИЗДЕЛИЕ ИЛИ СЗМ) , ПРЕДНАЗНАЧЕНЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЙ ТРЕХМЕРНОЙ ТОПОЛОГИИ И ПАРАМЕТРОВ МИКРОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ КОНДЕНСИРОВАННЫХ СРЕД С АТОМАРНЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ, ПРИМЕНЯЕТСЯ ДЛЯ НАУЧНЫХ ИСЛЕДОВАНИЙ, НЕ ВОЕННОГО НАЗНАЧЕНИЯ;  СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП НТЕГРА (NTEGRA) СПЕКТРА S/N XXXXXXXXXXXX

9012 10 900 0

ОБОРУДОВАНИЕ ЛАБОРАТОРНОЕ: ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП;  СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП MINI SEM A5100. ПОСТАВЛЯЕТСЯ В СЛЕДУЮЩЕЙ КОМПЛЕКТАЦИИ: СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП С ВОЛЬФРАМОВОЙ НИТЬЮ, SE, УВЕЛИЧЕНИЕ 20X~150000X, УВЕЛИЧЕНИЕ 20X~150000X, РАЗРЕШЕНИЕ 5 НМ ПРИ 30 КВ (SE) ПРЕДВАРИТЕЛЬНО

9012 10 900 0

МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ, ПОСТАВЛЯЕТСЯ В ЧАСТИЧНО РАЗОБРАННОМ ВИДЕ ДЛЯ УДОБСТВА ТРАНСПОРТИРОВКИ: ; ЛАЗЕРНЫЙ КОНФОКАЛЬНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ, В КОМПЛЕКТ ПОСТАВКИ ВХОДЯТ: БЛОК ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ ЛАЗЕРОВ (X ШТ. ); БЛОК ДЕТЕКТОРА 4-Х КАНАЛЬНЫЙ ( X ШТ. ); БЛОК КОНТРОЛЛЕРА (X ШТ. ); СКАНИРУЮЩИЙ КОНФОКАЛЬНЫЙ МОДУЛЬ (X ШТ. ); ПЕРСОНАЛЬНЫЙ КОМПЬЮТЕР - РАБОЧАЯ

9012 10 900 0

МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ, НЕ МЕДИЦИНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ, ГРАЖДАНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ;   ДЛЯ РАБОТЫ С ОПТИЧЕСКИМИ КОННЕКТОРАМИ - МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ ПИТАНИЕ 220В ПОЗВОЛЯЕТ ИНСПЕКТИРОВАТЬ РАЗЪЕМЫ ОПТИЧЕСКОГО КАБЕЛЯ НА ПРЕДМЕТ ДЕФЕКТОВ. ИМЕЕТ ПОРТЫ ДЛЯ ПОДКЛЮЧЕНИЯ МОНИТОРА И КОМПЬЮТЕРА

9012 10 900 0

МИКРОСКОПЫ, КРОМЕ ОПТИЧЕСКИХ, АППАРАТЫ ДИФРАКЦИОННЫЕ, ИТОГО - XШТ. ; СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП (СЭМ) , ПОЛНОСТЬЮ УПРАВЛЯЕМЫЙ ЧЕРЕЗ ПЕРСОНАЛЬНЫЙ КОМПЬЮТЕР, ЯВЛЯЕТСЯ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИМ ЛАБОРАТОРНЫМ ОБОРУДОВАНИЕМ И ПРЕДНАЗНАЧЕН ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ И ПРОВЕДЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЙ В ВЫСОКОМ ВАКУУМЕ, А ТАКЖЕ ДЛЯ

9012 10 900 0

МУЛЬТИСЕНСОРНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП, ДЛЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ В ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ, ГРАЖД. НАЗН. :; MICROSCOPE/МУЛЬТИСЕНСОРНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП400CNC ВВОЗИТСЯ В КАЧЕСТВЕ ОБРАЗЦА ДЛЯ СЕРТИФИКАЦИИ

9012 10 900 0

НЕОПТИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ И МОДИФИКАЦИИ ПОВ-ТЕЙ ОБЪЕКТОВ, ПОЗВОЛЯЕТ ПОЛУЧИТЬ ИЗОБР. ПОВ-СТИ С РАЗРЕШЕНИЕМ ОТ АТОМАРНОГО ДО ДОЛЕЙ МИКРОНА. В РАЗОБР. ВИДЕ. МАРКА SMENA ТЕХ. ХАР-КИ: ОБЛАСТЬ СКАНИРОВАНИЯ 100Х100Х10 МКМ, ДИАПАЗОН СКАНИРОВАНИЯ 50Х50Х2, 5 МКМ, ТОЧНОСТЬ ПЕРЕМЕЩЕНИЯ 5 МКМ. РАЗРЕШЕНИЕ В ПЛОСКОСТИ X, Y - 100 A, ВЕРТИКАЛЬНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ Z - 30 А. НЕ ЯВЛЯЕТСЯ ЦИФРОВЫМ ИНВЕРТИРОВАННЫМ МИКРОСКОПОМ, НЕ ГЕРМЕТИЧЕН. НЕ МОЖЕТ БЫТЬ СИСТЕМОЙ НАБЛЮДЕНИЯ И АРХИВАЦИИ ДАННЫХ РАЗВИТИЯ ЭМБРИОНОВ. НЕ МОЖЕТ ПРИМЕНЯТЬСЯ ДЛЯ ПОКАДРОВОЙ СЪЕМКИ РАЗВИТИЯ ЧЕЛОВЕЧЕСКОГО ЭМБРИОНА В ИНКУБАТОРЕ ЧЕРЕЗ ЗАДАННЫЕ ПРОМЕЖУТКИ ВРЕМЕНИ. ПРИМЕНЕНИЕ В НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЯХ, НАНОТЕХНОЛОГИИ, МИКРОМЕХАНИКИ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ.  

9012 10 900 0

Двулучевая система . .. представляет собой электронно-ионную систему микроскопии для проведения исследований и характеризации металлических, полупроводниковых, керамических, полимерных, композитных материалов в научных лабораториях. В состав двулучевой системы входят: двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп . .. (состоит из основного блока микроскопа с устройствами подъема оборудования, рабочего стола оператора с боксом для переноса образца, основной и вспомогательной рабочих станций микроскопа с устройствами визуализации, форвакуумного насоса, блока водяного охлаждения, воздушного компрессора, блока управления электропитанием) ; энергодисперсионный спектрометр с твердотельным кремниевым дрейфовым детектором; анализатор дифракции обратно-рассеянных электронов (с рабочей станцией и устройством визуализации) . Поставляется в комплекте с программным обеспечением; комплектами кабелей, инструментами, крепежными элементами и материалами в количестве, необходимом для соединения, монтажа и пуско-наладки оборудования. Принцип действия: образец помещается в вакуумную камеру микроскопа на гониометрический столик для образцов на различных специальных держателях; в верхней части электронно-оптической колонны с помощью электронного источника, электронных линз и корректора сферических аберраций формируется узкий пучок электронов, который фокусируется на поверхности образца; электроны пучка взаимодействуют с атомами образца теряя энергию и вызывая различное вторичное электронное излучение, которое характеризует состав, форму, кристаллические и другие свойства образца в точке падения пучка; при сканировании пучком заданной области на поверхности регистрация вторичного излучения позволяет получить изображение (растровое) выбранного участка поверхности; применение методики послойного травления поверхности образца при помощи сфокусированного ионного пучка позволяет получать трехмерные изображения и карты элементного состава исследуемых объектов; электронно-оптическая и ионная коолонны могут применяться одновременно. Энергодисперсионный спектрометр (устанавливается на вакуумную камеру электронного микроскопа) предназначен для качественного и количественного анализа элементного состава образцов при помощи электронного сканирующего микроскопа; последующая обработка данных спектрометра позволяет сделать вывод о наличии в образце атомов того или иного рода и составить карту распределения атомов по образцу. Анализатор дифракции обратно-рассеянных электронов с флуоресцентным экраном и цифровой СМОS камерой (устанавливается на вакуумную камеру электронного микроскопа) предназначен для определения локальной кристаллографической ориентации образца при помощи электронного сканирующего микроскопа (регистрация и расшифровка картины дифракции отраженных электронов в точке, картирование по поверхности образца, картирование с синхронным анализом элементного состава при помощи спектрометра) . Анализатор дифракции обратно-рассеянных электронов с флуоресцентным экраном и цифровой СМОS камерой (устанавливается на вакуумную камеру электронного микроскопа) предназначен для определения локальной кристаллографической ориентации образца при помощи электронного сканирующего микроскопа (регистрация и расшифровка картины дифракции отраженных электронов в точке, картирование по поверхности образца, картирование с синхронным анализом элементного состава при помощи спектрометра) .